用于研究开发、质量管理线，执行粉体之物性管理
与阻抗率计loresta-gx(mcp-t700),hiresta-ux(mcp-ht800)连接，以测定广范围之粉体之低阻抗、高阻抗
样品的交换、清扫简单、可采一触式着离探头
各种粉体的形状，粒径分布之不同依压力依存性把握其阻抗率及压缩容积
测定及数据、备有达执行图形化之软件以供选购
原理：
通过使用粉专用探针，可以在任意压力下测量导~绝缘的电阻率。 不是模拟一个粒子，而是模拟加压成形的粒子的集合状态，起因于填充特性
可以求出乘积电阻率。
测定对象：
碳基粉末…二次电池电极材料/活性炭/焦炭/石墨/炭黑/碳纤维/纳米碳等
金属粉…电池电极材料/铜粉等薄膜材料/导电性浆料等电路基板材料/导电性涂料/压粉原料等
调色剂/树脂/食品用粉类/陶瓷/粉涂料等绝缘性粉粉末粉体
电阻值：
低电阻10-3ω~107ω高电阻103ω~1013ω
测量方法：
低电阻四探针方式(电极间隔3mm )高电阻双环法
